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电子产品实用可靠性设计和试验技术高级培训
 
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       坚持小班授课,为保证培训效果,增加互动环节,每期人数限3到5人。
   上课时间和地点
开课地址:【上海】同济大学(沪西)/新城金郡商务楼(11号线白银路站)【深圳分部】:电影大厦(地铁一号线大剧院站) 【武汉分部】:佳源大厦【成都分部】:领馆区1号【沈阳分部】:沈阳理工大学【郑州分部】:锦华大厦【石家庄分部】:瑞景大厦【北京分部】:北京中山学院 【南京分部】:金港大厦
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   质量保障

        1、培训过程中,如有部分内容理解不透或消化不好,可免费在以后培训班中重听;
        2、课程完成后,授课老师留给学员手机和Email,保障培训效果,免费提供课后答疑。
        3、培训合格学员可享受免费推荐就业机会。

课程大纲
 

一. 常用的可靠性指标
1. 常用的可靠性指标
可靠度、不可靠度、瞬时失效率、保证寿命、平均寿命、特征寿命、中位寿命、平均修复时间、有效度。
2 概率与统计
①概率②分布③置信区间;
二. 可靠性模型基础
三. 可靠性预计和分配
1 GJB可靠性预计法
2 贝尔实验室可靠性预计法
3 广州地铁电源系统的可靠性模型和预计
四. 电子可靠性设计
1. 可靠性设计的思路
设计失败的案例
2. 某型计算机可靠性设计缺陷分析
3. 降额设计
4. 储备(冗余)设计
5. 潜在通路分析
案例1 潜在通路案例2 潜在时间案例3 潜在标志案例4 潜在指示 地铁上紧急按钮的潜在指示
6. 电子产品热设计 
6.1 温度对电子设备可靠性的影响6.2 电子设备热的来源6.3 热设计的目的6.4 热设计的程序6.5 热设计中元器件布局案例6.6 热设计中元器件的安装原则
安装失误案例6.7 鼓风机的选择与安装6.8 冷却剂流道设计6.9 改善热设计的方法及案例
案例1 密封电子设备 案例2 机载电子设备
7. 软件可靠设计技巧与管理
软件可靠设计案例
五. 元器件的常见的失效模式及预防对策
① 阻容元件常见的失效模式及预防对策案例②二极管三极管常见的失效模式及预防对策案例③机电元件常见的失效模式及预防对策案例④集成电路常见的失效模式及预防对策案例⑤防浪涌设计案例⑥防闩锁设计案例⑦ESD防护案例
六. 可靠性试验
1. 可靠性试验及其分类
2. 可靠性测定试验
点估计 区间估计
3. 可靠性鉴定试验
2.1 试验大纲2.2 试验条件2.3 试验样品2.4 一次抽样检验方案的基本原理2.5 案例分析
4. HALT/HASS试验
1) HALT和HASS的概念与应用范围 
2) 高加速的基本原理 
3) HALT/HASS试验过程及方法 
4) 开展HALT和HASS的几点看法
5. 可靠性增长实验
6. 加速寿命实验
5.1 寿命试验的分类 5.2 寿命试验的测试点 5.3 寿命试验的数据处理5.4 加速寿命试验的理论依据5.5 加速应力的选择5.6 样品数量的选择5.7 激活能的计算5.8 双应力加速实验法
7. 可靠性实验案例介绍
案例1 已知置信度和MTBF时的实验测定
案例2 已知置信度和可靠度时的实验测定
案例3 案例加速寿命实验测定法
案例4 可靠性鉴定实验

 
 
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