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坚持小班授课,为保证培训效果,增加互动环节,每期人数限3到5人。 |
上课时间和地点 |
上课地点:【深圳分部】:电影大厦(地铁一号线大剧院站)/深圳大学成教院 【上海】:同济大学(沪西)/新城金郡商务楼(11号线白银路站) 【北京分部】:北京中山学院/福鑫大楼 【南京分部】:金港大厦(和燕路) 【武汉分部】:佳源大厦(高新二路) 【成都分部】:领馆区1号(中和大道) 【沈阳分部】:沈阳理工大学/六宅臻品 【郑州分部】:郑州大学/锦华大厦 【广州分部】:广粮大厦 【西安分部】:协同大厦 【石家庄分部】:河北科技大学/瑞景大厦
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实验设备 |
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质量保障 |
1、培训过程中,如有部分内容理解不透或消化不好,可免费在以后培训班中重听;
2、课程完成后,授课老师留给学员手机和Email,保障培训效果,免费提供课后答疑。
3、培训合格学员可享受免费推荐就业机会。 |
课程大纲 |
程收益:
深刻理解可测性设计(DFT)的基本思想和基本原理
熟悉可测性设计(DFT)的基本业务流程
全面掌握可测性设计(DFT)的设计方法
有效构建可测性设计(DFT)的体系平台和货架技术
课程内容介绍:
一、可测性设计(DFT)概述
1、产品生命周期V模型 2、电子信息产品测试所面临的问题 3、什么是可测性设计(DFT)
4、思考:如何深刻理解可测性设计(DFT) 5、可测性的物理特征表述 6、可测性的测度形式
讨论:以下各功能模块的可测性测度是怎样的?
7、可测性设计(DFT)的效益分析 8、可测性设计(DFT)基本要素 9、IPD模式下的DFT体系结构
10、可测性设计(DFT)基本过程11、可测性设计(DFT)中常用术语及缩略语
二、可测性设计(DFT)需求
1、整机研发测试的可测性(DFT)需求来源 2、整机研发测试的可测性(DFT)需求
3、单板软件研发测试的可测性(DFT)需求来源 4、单板软件研发测试的可测性(DFT)需求
5、单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求来源 6、单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求
7、单板生产测试的可测性(DFT)需求来源 8、单板生产测试的抽象模型
思考:单板生产测试的目的是什么?
9、单板生产测试路线 10、单板生产工艺测试基本原理
11、单板生产功能测试基本原理 12、单板生产测试的可测性(DFT)需求
讨论:本公司各产品适合的生产测试方案和路线是怎样的?
13、JTAG在生产测试中的应用 14、JTAG在生产测试中的可测性设计(DFT)需求
15、单板维修可测性设计(DFT)需求
思考:本公司生产维修有哪些诊断手段?
三、可测性设计(DFT)基本方法
1、输入输出通道设计——测试控制物理通道
2、输入输出通道设计——外部测试命令集
3、输入输出通道设计——测试控制管理
4、输入输出通道设计——测试信息存储与输出
5、输入输出通道设计——外部仪器输入输出接口
6、内置数据源设计——业务数据源自动生成
7、内置数据源设计——差错数据源自动生成
8、内置数据源设计——容限/极限数据源自动生成
9、内置数据源设计——故障数据源自动生成
10、能控性设计——测试数据源的设置与启动
11、能观性设计——系统配置状态监控
12、能观性设计——系统业务状态监控
13、能观性设计——单板运行状态监控
14、能观性设计——系统资源状态监控
15、能观性设计——系统其它状态监控
16、BIST设计——通道分层环回
17、BIST设计——故障诊断
18、BIST设计——初始化自检
案例解读
四、单板可测性设计(DFT)必须考虑的要素
1、机械结构设计 2、自检和自环设计 3、工装夹具设计 4、测试点设计 5、芯片控制引脚设计 6、边界扫描测试设计 7、EPLD/CPLD/FPGA设计 8、如何设计以减少测试点
五、可测性设计(DFT)工程实施
1、可测性设计(DFT)工程实施步骤
2、可测性设计(DFT)工程实施障碍
3、交流与探讨:如何构建可测性设计(DFT)体系和货架技术 |