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坚持小班授课，为保证培训效果，增加互动环节，每期人数限3到5人。 |
| 上课时间和地点 |
上课地点：【深圳分部】：电影大厦(地铁一号线大剧院站)/深圳大学成教院 【上海】：同济大学(沪西)/新城金郡商务楼(11号线白银路站) 【北京分部】：北京中山学院/福鑫大楼 【南京分部】：金港大厦(和燕路) 【武汉分部】：佳源大厦（高新二路） 【成都分部】：领馆区1号（中和大道） 【沈阳分部】：沈阳理工大学/六宅臻品 【郑州分部】：郑州大学/锦华大厦 【广州分部】：广粮大厦 【西安分部】：协同大厦 【石家庄分部】：河北科技大学/瑞景大厦
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| 实验设备 |
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| 质量保障 |
1、培训过程中，如有部分内容理解不透或消化不好，可免费在以后培训班中重听；
2、课程完成后,授课老师留给学员手机和Email,保障培训效果,免费提供课后答疑。
3、培训合格学员可享受免费推荐就业机会。 |
课程大纲 |
招生对象
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| 硬件工程师、电路工程师、PCB工程师、测试工程师、系统工程师、研发部门经理等 |
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课程内容
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课程介绍
老师基于十多年深厚的硬件开发和测试经验，基于对电子系统质量、可靠性验证的深刻认识，基于对大量客户现场的故障电路板的深入研究，精心提炼出本门专注于电路测试的课程。期望通过大量经验的分享、实际案例的分析、测试要点的讲解，帮助硬件工程师、测试工程师、相关部门的领导，深入理解如何对电路板做测试，如何做电子产品的系统测试，如何借助工厂测试来帮助定位和调试电路故障。
课程内容围绕电子电路测试所涉及的主要环节
针对测试过程中可能遇到的问题、陷阱
所有的技术要点，均通过工程实践中的实际案例分析导入
并从案例中提取出一般性的方法、思路
引导学员，将这些方法落地，在工程实践中直接使用
课程大纲：
1. 电路的工厂测试方法之 --- 光学测试与X光测试
光学测试（AOI）方法：测试原理、能查出什么类型的电路问题
X光测试（AXI）方法：测试原理、能查出什么类型的电路问题
案例分析：应用X光检测方法，发现在长时间测试过程中复杂电路故障的根本原因，基于该案例，体会如何利用光学检查、X光检查，协助电路调试。
光学检查与X光检查的差异、如何针对电路问题而选择不同的方法
光学检查与X光检查---需要硬件工程师提供哪些协助？
2. 电路的工厂测试方法之 --- 飞针测试与ICT
飞针测试的测试方法介绍，飞针测试能在哪些方面协助硬件研发、实例分析
ICT测试方法、ICT能在哪些方面协助硬件研发和验证
飞针测试与ICT各自的优缺点---工程师如何选择测试方式？
工程案例分析：ICT测试工程师未充分理解电路原理，导致ICT测试出现大量误报
3. 电路的工厂测试方法之 --- 边界扫描测试（JTAG）
JTAG测试的基本原理和硬件电路接口分析
JTAG测试的主要应用场合、实例分析
JTAG的业界标准
工程问题：JTAG能做的，ICT都可以做吗？如果可以，为什么需要JTAG？
工程问题：有什么测试项是ICT无法做的，而JTAG却很适合？
JTAG测试前，需要研发工程师提供哪些协助？
JTAG电路设计的12项要点与实例分析
CPU的JTAG接口---需要特别关注的要点、实例分析
工程实例：复杂电路板的JTAG电路设计实例
4. 电路的工厂测试方法之 --- 小批量试制的功能测试
案例分析：忽略小批量试制中极低概率故障，导致的严重损失
5. 总结：电路的工厂测试方法总结、注意要点
6. 扩展：通过2则工程案例的分析，深入理解，当在电路测试中遇到故障，如何借助工厂测试方法，予以快速解决 |
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